Spektrometry XRF
spektrometry rentgenowskie WDX oraz EDX
Technika XRF oferuje analizę składu chemicznego szerokiej gamy materiałów w sposób nieniszczący i bardzo dokładny. Zaletami tego typu analizy jest łatwość przygotowywania próbek, analiza materiałów nieprzewodzących (szkło, ceramika, tworzywa) jak i wyjątkowa dokładność, szczególnie dla wysokich poziomów stężeń. Technika XRF umożliwia także analizę cieczy (oleje, paliwa). Metoda ta ma zastosowanie w pracach rozwojowo-badawczych jak również w kontroli procesów przemysłowych. Zwykle osiąga się precyzję pomiarów wewnątrz przedziału +-0,1% a limity detekcji są często na poziomie ppm lub nawet poniżej. Technika XRF jest szeroko używana w przemyśle metalowym łącznie z techniką OE. Taka kombinacja stwarza optymalną konfigurację dla szybkich i dokładnych analiz zarówno metali jak i tlenków związanych z produkcją metali (rudy, żużle).
Główne zalety techniki XRF:
- analiza pierwiastków od Be do U,
- duża szybkość i dokładność,
- analiza materiałów w różnych postaciach fizycznych,
- analiza materiałów przewodzących i nieprzewodzących,
- analiza w szerokim zakresie stężeń,
- dokładność również dla wysokich poziomów stężeń,
- programy do analizy bezwzorcowej,
- łatwość przygotowania próbek.
|
Do pobrania:
|
|
|
|
|
